METTLER梅特勒電子分析天平XPE105DR
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                    靜電檢測
自動檢測任何出現在稱量室中可能導致不合格結果的相關靜電荷。
輕松的天平管理
創新性 StatusLightTM 可以快速提供天平狀態信息,實現即時質量控制。采用 Test Manager 確保合規性。
可輕松升級
XPE 天平通過自動化粉末和液體加樣開始您的流程,是一個完美的起點。利用 Quantos 加樣模塊輕松升級。
技術參數:
| 大秤量 | 120g/41g | 
| 可讀性 | 0.1mg;0.01mg | 
| 重復性(校驗砝碼) | 0.015mg(5g) | 
| 最小稱量值 (USP),典型值 | 14 mg | 
| 校正 | 內部/proFACT高級版 | 
| 自動最小稱量值(USP),典型值 | 10mg | 
| 秤盤外形尺寸(寬x深) | 73mmx78mm | 
| 合法交易 | No | 
| 穩定時間 | 1.5s | 
| 重復性(典型) | 7μg | 
| 線性誤差(典型值)± | 0.1mg | 
| 尺寸 (高x寬) | 322mmx263mm | 
| 物料號 (s) | 30087924 | 

 
                        
                        
                    
 
                                        